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更新日期：2025-05-02
簡(jiǎn)要描述：
日本ecginc匝間短路檢測(cè)儀DWX-300LI超低電感線圈?高速測(cè)試仕樣！1μH的線圈用10msec測(cè)試！針對(duì)監(jiān)測(cè)分析 可用于線圈部品的詳細(xì)評(píng)價(jià)測(cè)試。針對(duì)高速檢查裝置 印加時(shí)間4msec，測(cè)試間隔10msec執(zhí)行運(yùn)作。※（施加脈沖１脈沖?無判定?無畫面顯示狀態(tài)下z短時(shí)間時(shí)）
日本ecginc匝間短路檢測(cè)儀DWX-300LI
超低電感線圈?高速測(cè)試仕樣！
1μH的線圈用10msec測(cè)試！
針對(duì)監(jiān)測(cè)分析 可用于線圈部品的詳細(xì)評(píng)價(jià)測(cè)試。
針對(duì)高速檢查裝置 印加時(shí)間4msec，測(cè)試間隔10msec執(zhí)行運(yùn)作。
※（施加脈沖１脈沖?無判定?無畫面顯示狀態(tài)下z短時(shí)間時(shí)）
針對(duì)貼片電感線圈的絕緣檢測(cè)專yong機(jī)型。
通過死４端子測(cè)試回路，可對(duì)超低電感的線圈充分施加高壓。
可對(duì)z小1μH的線圈，施加z大1000V 的脈沖電壓（畫面顯示值）。
此臺(tái)設(shè)備具有針對(duì)線圈內(nèi)絕緣測(cè)試z合適的告訴檢查裝置的 「高速檢測(cè)模式」，良?不良判定「一般測(cè)試模式」，以及詳細(xì)檢測(cè)分析的「破壞檢測(cè)模式」的各種功能。
無波形顯示的判定狀態(tài)下，施加1次脈沖的z短時(shí)間是10msec的高速運(yùn)作，因此可用于線上量產(chǎn)使用。
日本ecginc匝間短路檢測(cè)儀DWX-300LI
| DWX-300LI | DWX-01LI | DWX-05A | |
|---|---|---|---|
| 用途 | 精密測(cè)試 | 超低電感 | 普通線圈及部品 |
| 電感范圍 | 0.1μH～10mH | 0.1μH～10mH | 10μH～100mH |
| z大輸出電壓（無負(fù)荷） | 3～300V | 10～1200V | 5000V |
| 測(cè)定電壓分解能 | 0.3V | 1.2V | 100V |
| z大施加電壓（基準(zhǔn)） | 1μH時(shí)300V | 1μH時(shí)1000V | 10μH時(shí)1000V |
| 波形采樣分解能 | 200MHz相當(dāng) | 100MHz | |
| z短測(cè)試時(shí)間 （1脈沖施加） | 高速模式 無波形顯示判定 10msec 有波形顯示判定 18msec | 檢測(cè)模式 無畫面顯示 53msec 有畫面顯示 108msec | 200msec |
| 判定功能 | 面積（Area%），波形面積差（Dif Area%） Peak電壓（Peak Stb%） 放電等級(jí)（Laplacian）， 波形衰減率（Laplacian%） 破壞電壓評(píng)價(jià)測(cè)試（BDV） 根據(jù)手動(dòng)操作的耐壓評(píng)價(jià)測(cè)試（Manual BDV） | 面積（Area） 波形面積差（Dif Area） 放電量（Flutter） 放電等級(jí)（Laplacian） | |
| 測(cè)試回路 | 4端子 | 2端子 | |
| 測(cè)試線長度范圍 | 推薦1.5m?。▃大3m） | 推薦1.6m?。▃大3m） | |
| 對(duì)應(yīng)局部放電測(cè)試 | 不可 | PD對(duì)應(yīng) | |
| 付加功能 | 標(biāo)準(zhǔn)波形存儲(chǔ)數(shù) 196種，可用CF卡進(jìn)行擴(kuò)充，通過RS-232C?I/O外部控制，測(cè)試結(jié)果Log保存?畫面硬拷貝保存 | ||
| 外部I/O控制信號(hào) | 施加觸發(fā)器(Trig)?施加終了(Index) 等 檢查處理程序用高速接口定時(shí)對(duì)應(yīng) | 測(cè)試開始i(Start)?測(cè)試中(Busy)等外部控制 | |
| 外觀尺寸 (不含Carry Handle) | 345(W)×185(H)×360(D) | ||
| 附件 | 4端子測(cè)試線1.5m | 測(cè)試電纜線1.6m | |
| 電源電壓 | AC100/115/220/240 ±5% 切換式 | ||
