光學元件拋光不均勻檢測用光源介紹

發(fā)布日期：2022-05-09      瀏覽次數(shù)：1126

光學元件拋光不均勻檢測用光源介紹

高亮度鹵素光源裝置是用于宏觀觀察的照明裝置，用于檢測終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是加工過程中勞動強度的一種。半導體晶片和液晶基板的加工。

概述

　　1. 樣品表面可照射到 400,000 Lx 以上。

　　2、由于采用鹵素燈作為光源，色溫高，光照不均勻少，光照
　　　　非常穩(wěn)定銳利。

　　3、采用冷鏡，熱量的影響極小
　　　　，僅為傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。

　　4. 兩段式切換機構(gòu)，一
　　　　鍵切換強光觀察和弱光觀察。
　　　　YP-150I ? ? ? 照度范圍 φ30
　　　　YP-250I ? ? ? 照度范圍 φ60
　　　　（YP-250I 可以從螺旋槳風扇型和管道風扇型中選擇。）